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服務(wù)項(xiàng)目

Project
材料分析
IC真?zhèn)螜z測(cè)
失效分析
DPA檢測(cè)
開發(fā)及功能驗(yàn)證
可靠性驗(yàn)證
電磁兼容(EMC)
化學(xué)分析
產(chǎn)品認(rèn)證
其他檢測(cè)項(xiàng)目

我們的項(xiàng)目

非破壞性分析

電性檢測(cè)

失效點(diǎn)定位

破壞性物理分析

物理分析

工程樣品封裝服務(wù)

競(jìng)爭(zhēng)力分析

晶圓劃片

芯片打線/封裝

· 項(xiàng)目描述

將wafer進(jìn)行分切,為后續(xù)的快速封裝做前期準(zhǔn)備??商峁?寸、12寸single die 以及MPW晶圓切割。

· 檢測(cè)內(nèi)容

通過空氣靜壓主軸帶動(dòng)金剛石砂輪劃切刀具高速旋轉(zhuǎn),將晶圓或器件沿切割道方向進(jìn)行切割或開槽。

· 應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體晶圓、集成電路、QFN、發(fā)光二極管、LED芯片、太陽(yáng)能電池、電子基片

· 檢測(cè)設(shè)備