服務(wù)項(xiàng)目
Project我們的項(xiàng)目
X-RAY檢測(cè)
功能檢測(cè)
粒子碰撞噪聲檢測(cè)
密封
內(nèi)部水汽含量
超聲波掃描（SAT檢測(cè)）
可焊性測(cè)試
開(kāi)蓋測(cè)試
鍵合強(qiáng)度
芯片剪切強(qiáng)度
結(jié)構(gòu)
外觀檢測(cè)
可焊性測(cè)試
根據(jù)可焊性測(cè)試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，模擬芯片上機(jī)過(guò)程以檢測(cè)芯片管腳的上錫程度是否達(dá)到焊接標(biāo)準(zhǔn)的要求，以此來(lái)判斷樣品管腳能否正常的焊接。
引腳測(cè)試端被新的焊料層覆蓋面積超過(guò)95%以上為合格
集成電路、IC芯片、半導(dǎo)體
